光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀是商用CMOS圖像傳感器測(cè)試儀,，可以提供全面的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征。被測(cè)設(shè)備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊,。檢驗(yàn)程序符合EMVA 1288標(biāo)準(zhǔn),。因此，可用于進(jìn)行晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè),、加工參數(shù)控制,、微透鏡設(shè)計(jì)、微透鏡驗(yàn)證,。SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀的高度準(zhǔn)直光束（<1°）可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)（如積分球系統(tǒng)）無法解決的新制造工藝的檢測(cè)困難,。

詳情介紹

特色

*無損光學(xué)檢測(cè)。

*高度準(zhǔn)直梁角 /高準(zhǔn)直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型號(hào))

*高均勻光束點(diǎn)：≥ 99%,。

*光的不穩(wěn)定性≤1%,。

*高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試能力：80dB~140dB（不同型號(hào)）。

*可以測(cè)試CMOS圖像傳感器參數(shù),。量子效率,、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度,、動(dòng)態(tài)范圍,、暗電流/噪聲、信噪比,、飽和容量,、線性誤差（LE）、DCNU（暗電流不均勻性）,、PRNU（光響應(yīng)不均勻性）,、CRA。

*全光譜波長(zhǎng)范圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm（PTC）,。

*波長(zhǎng)可擴(kuò)展至1700納米以上,。

*DUT 封裝：CIS 模塊，PCB 板級(jí),，CIS 攝像頭,，有/無微透鏡。

*SG-A和DUT之間的 “直接 “或 “握手 “通信協(xié)議,。

*定制的測(cè)試夾具和平臺(tái)（手動(dòng)或自動(dòng),，多6軸）。

*功能完整的分析軟件ARGUS®,。

*應(yīng)用：指紋識(shí)別（CIS+鏡頭,，CIS+準(zhǔn)直器，TFT陣列傳感器）CIS的微透鏡設(shè)計(jì),，晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè),，CIS DSP芯片算法開發(fā)，Si TFT傳感器面板,，飛行時(shí)間相機(jī)傳感器,，接近傳感器（量子效率，靈敏度,，線性度,，SNR等），d-ToF傳感器,，i-ToF傳感器,，多光譜傳感器，環(huán)境光傳感器（ALS）,，指紋顯示（FoD）傳感器,。

規(guī)格

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀的功能很好，因此相關(guān)的規(guī)格和配件也很齊全,。更多細(xì)節(jié)可再了解,。

以下是主要的能力規(guī)格:

– 全光譜的波長(zhǎng)范圍：300-1100nm或350-1000nm（PTC）

– 波長(zhǎng)范圍可以擴(kuò)展到1700 nm或更高

– 單一波長(zhǎng)源：470nm、530nm、630nm,、940nm（±5nm）,，或自定義

– 動(dòng)態(tài)范圍：80dB、100dB或140dB

– 測(cè)試夾具：DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制

– 平臺(tái)：非,、手動(dòng)3軸,，或6軸（手動(dòng)+自動(dòng)）平臺(tái)（可定制）

應(yīng)用范圍

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀可用于：

*指紋識(shí)別（CIS+鏡頭、CIS+準(zhǔn)直器,、TFT-陣列傳感器)

*CIS的微透鏡設(shè)計(jì),，晶圓級(jí)光學(xué)檢查

*CIS DSP 芯片的算法開發(fā)

*Si TFT 傳感器面板

*飛行時(shí)間相機(jī)傳感器

*近距離感應(yīng)器 (量子效率、靈敏度,、線性度,、SNR等。)

*d-ToF傳感器,、i-ToF傳感器

*多光譜傳感器

*環(huán)境光傳感器 (ALS)

*指紋顯示（FoD）傳感器