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光炎量子效率分析儀圖像傳感器測(cè)試儀

光炎量子效率分析儀圖像傳感器測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:光炎量子效率分析儀圖像傳感器測(cè)試儀是一個(gè)商用 CMOS 圖像傳感器測(cè)試儀,。SG-A可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數(shù)表征,,如全光譜量子效率 QE、整體系統(tǒng)增益 K,、時(shí)間性暗噪聲,、信噪比、靈敏度閾值,、飽和容量,、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU,、PRNU,、線性誤差和射線角 CRA。

產(chǎn)品型號(hào): SG-A

所屬分類:光焱量子效率測(cè)量系統(tǒng)

更新時(shí)間:2024-10-10

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

詳情介紹
品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池

快速安裝和快速部署可以幫助您加快上市時(shí)間

SG-A光炎量子效率分析儀圖像傳感器測(cè)試儀是一個(gè)商用CMOS圖像傳感器測(cè)試儀,。SG-A可以提供*的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征,,如全光譜量子效率QE、整體系統(tǒng)增益K,、時(shí)間性暗噪聲,、信噪比、靈敏度閾值,、飽和容量,、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU,、PRNU,、線性誤差和射線角CRA。被測(cè)設(shè)備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊,。檢驗(yàn)程序符合 EMVA 1288 標(biāo)準(zhǔn),。因此,SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀可用于進(jìn)行晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè),、加工參數(shù)控制,、微透鏡設(shè)計(jì)、微透鏡驗(yàn)證,。SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀的高度準(zhǔn)直光束(<1°)可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)(如積分球系統(tǒng))無(wú)法解決的新制造工藝的檢測(cè)困難,。這些工藝包括小像素(<1um)、BSI和3D堆疊,、微透鏡,、新的拜耳陣列設(shè)計(jì)等等,。


SG-A光炎量子效率分析儀圖像傳感器測(cè)試儀特色:

無(wú)損光學(xué)檢測(cè)。

高度準(zhǔn)直梁角/高準(zhǔn)直波束角<0.05度,,<0.1度,,<0.5度,<1度,,<3度(不同型號(hào))

高均勻光束點(diǎn)≥99%,。

光的不穩(wěn)定性≤1%。

高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試能力:80dB~140dB(不同型號(hào)),。

可以測(cè)試CMOS圖像傳感器參數(shù),。量子效率、光譜響應(yīng),、系統(tǒng)增益,、靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍,、暗電流/噪聲,、信噪比、飽和容量,、線性誤差(LE),、DCNU(暗電流不均勻性)、PRNU(光響應(yīng)不均勻性),、CRA(射線角),。

全光譜波長(zhǎng)范圍:300nm–1100nm或350nm~1000nm(PTC)。

波長(zhǎng)可擴(kuò)展至1700納米以上,。

DUT封裝:CIS模塊,,PCB板級(jí),CIS攝像頭,,有/無(wú)微透鏡。

SG-A和DUT之間的“直接“或“握手“通信協(xié)議,。

定制的測(cè)試夾具和平臺(tái)(手動(dòng)或自動(dòng),,多6軸)。

強(qiáng)大的分析軟件ARGUS®,。

應(yīng)用:指紋識(shí)別(CIS+鏡頭,,CIS+準(zhǔn)直器,TFT陣列傳感器)CIS的微透鏡設(shè)計(jì),,晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè),,CIS DSP芯片算法開發(fā),Si TFT傳感器面板,,飛行時(shí)間相機(jī)傳感器,,接近傳感器(量子效率,,靈敏度,線性度,,SNR等),,d-ToF傳感器,i-ToF傳感器,,多光譜傳感器,,環(huán)境光傳感器(ALS),指紋顯示(FoD)傳感器,。


規(guī)格:

SG-A型CMOS圖像傳感器測(cè)試儀的功能非常強(qiáng)大,,因此相關(guān)的規(guī)格和配件也非常齊全。請(qǐng)與我們聯(lián)系,,以了解更多細(xì)節(jié)和選擇咨詢,以下是主要的能力規(guī)格:

–全光譜的波長(zhǎng)范圍:300–1100納米或350–1000納米(PTC),。

–波長(zhǎng)范圍可以擴(kuò)展到1700納米或更高。

–單一波長(zhǎng)源,。470納米,530納米,630納米,940納米(±5納米)或自定義,。

–動(dòng)態(tài)范圍:80dB、100dB或140dB,。

–測(cè)試夾具:DUT≤100mmx100mmx30mm(高度)[基本型]或訂制,。

–平臺(tái):無(wú),手動(dòng)3軸或6軸(手動(dòng)+自動(dòng))平臺(tái)(可訂制)


應(yīng)用范圍:

指紋識(shí)別(CIS+鏡頭,,CIS+準(zhǔn)直器,,TFT-陣列傳感器)

CIS的微透鏡設(shè)計(jì),晶圓級(jí)光學(xué)檢查

CIS DSP芯片的算法開發(fā)

Si TFT傳感器面板

飛行時(shí)間相機(jī)傳感器

近距離感應(yīng)器(量子效率,、靈敏度,、線性度、SNR等)

d-ToF傳感器,,i-ToF傳感器

多光譜傳感器

環(huán)境光傳感器(ALS)

指紋顯示(FoD)傳感器




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