光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀

簡要描述：光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀是一個商用 CMOS 圖像傳感器測試儀,。SG-A可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數(shù)表征,，如全光譜量子效率 QE,、整體系統(tǒng)增益 K,、時間性暗噪聲,、信噪比,、靈敏度閾值,、飽和容量,、動態(tài)范圍、DSNU,、PRNU,、線性誤差和射線角 CRA。

產(chǎn)品型號： SG-A

所屬分類：光焱量子效率測量系統(tǒng)

更新時間：2024-10-10

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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SG-A光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀是一個商用CMOS圖像傳感器測試儀,。SG-A可以提供*的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征,，如全光譜量子效率QE、整體系統(tǒng)增益K,、時間性暗噪聲,、信噪比,、靈敏度閾值、飽和容量,、動態(tài)范圍,、DSNU、PRNU,、線性誤差和射線角CRA,。被測設(shè)備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗程序符合 EMVA 1288 標(biāo)準(zhǔn),。因此,，SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于進(jìn)行晶圓級光學(xué)檢測,、加工參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計,、微透鏡驗證,。SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的高度準(zhǔn)直光束（<1°）可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)（如積分球系統(tǒng)）無法解決的新制造工藝的檢測困難,。這些工藝包括小像素（<1um）、BSI和3D堆疊,、微透鏡,、新的拜耳陣列設(shè)計等等,。

SG-A光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀特色：

無損光學(xué)檢測。

高度準(zhǔn)直梁角/高準(zhǔn)直波束角<0.05度,，<0.1度，<0.5度,，<1度,，<3度(不同型號)

高均勻光束點≥99%,。

光的不穩(wěn)定性≤1%。

高動態(tài)范圍測試能力：80dB~140dB（不同型號）,。

可以測試CMOS圖像傳感器參數(shù),。量子效率、光譜響應(yīng),、系統(tǒng)增益,、靈敏度、動態(tài)范圍,、暗電流/噪聲、信噪比,、飽和容量、線性誤差（LE）,、DCNU（暗電流不均勻性）,、PRNU（光響應(yīng)不均勻性）,、CRA（射線角）。

全光譜波長范圍：300nm–1100nm或350nm~1000nm（PTC）,。

波長可擴(kuò)展至1700納米以上。

DUT封裝：CIS模塊,，PCB板級,，CIS攝像頭,，有/無微透鏡。

SG-A和DUT之間的“直接“或“握手“通信協(xié)議,。

定制的測試夾具和平臺（手動或自動,，多6軸）,。

強(qiáng)大的分析軟件ARGUS®。

應(yīng)用：指紋識別（CIS+鏡頭,，CIS+準(zhǔn)直器,，TFT陣列傳感器）CIS的微透鏡設(shè)計，晶圓級光學(xué)檢測,，CIS DSP芯片算法開發(fā),，Si TFT傳感器面板，飛行時間相機(jī)傳感器,，接近傳感器（量子效率,，靈敏度，線性度，SNR等）,，d-ToF傳感器,，i-ToF傳感器，多光譜傳感器,，環(huán)境光傳感器（ALS）,，指紋顯示（FoD）傳感器。

規(guī)格：

SG-A型CMOS圖像傳感器測試儀的功能非常強(qiáng)大,，因此相關(guān)的規(guī)格和配件也非常齊全,。請與我們聯(lián)系，以了解更多細(xì)節(jié)和選擇咨詢,以下是主要的能力規(guī)格：

–全光譜的波長范圍：300–1100納米或350–1000納米（PTC）,。

–波長范圍可以擴(kuò)展到1700納米或更高,。

–單一波長源。470納米,530納米,630納米,940納米（±5納米）或自定義,。

–動態(tài)范圍：80dB,、100dB或140dB。

–測試夾具：DUT≤100mmx100mmx30mm(高度)[基本型]或訂制,。

–平臺：無,，手動3軸或6軸（手動+自動）平臺（可訂制)

應(yīng)用范圍：

指紋識別（CIS+鏡頭,，CIS+準(zhǔn)直器,，TFT-陣列傳感器)

CIS的微透鏡設(shè)計，晶圓級光學(xué)檢查

CIS DSP芯片的算法開發(fā)